WEKO3
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Assessment of Au-Ge Die Attachment for an Extended Junction Temperature Range in Power Applications
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Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||
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公開日 | 2015-03-26 | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | Assessment of Au-Ge Die Attachment for an Extended Junction Temperature Range in Power Applications | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
キーワード | ||||||
言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | High temperature | |||||
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言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | Ceramic substrate | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
資源タイプ | conference paper | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | -次世代電力変換器用途- SiC用高温Au-Geダイボンドとその信頼性評価 | |||||
著者 |
谷本, 智
× 谷本, 智× 松井, 康平× 村上, 善則× 山口, 浩× 奥村, 元× Tanimoto, Satoshi× Matsui, Kohei× Murakami, Yoshinori× Yamaguchi, Hiroshi× Okumura, Hajime |
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著者所属 | ||||||
日産自動車株式会社 総合研究所 EVシステム : 研究所技術研究組合 次世代パワーエレクトロニクス研究開発機構 第3研究センター | ||||||
著者所属 | ||||||
富士電機 : 研究所技術研究組合 次世代パワーエレクトロニクス研究開発機構 第3研究センター | ||||||
著者所属 | ||||||
日産自動車株式会社 総合研究所 EVシステム : 研究所技術研究組合 次世代パワーエレクトロニクス研究開発機構 第3研究センター | ||||||
著者所属 | ||||||
産業技術総合研究所 エネルギー半導体エレクトロニクス研究ラボ | ||||||
著者所属 | ||||||
産業技術総合研究所 エネルギー半導体エレクトロニクス研究ラボ | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
Nissan Research Center (NRC), Nissan Motor Co., Ltd. : R&D Partnership for Future Power Electronics Technology (FUPET) c/o AIST | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
Advanced Technology Laboratry, Fuji Electric Holdings Co, Ltd. : R&D Partnership for Future Power Electronics Technology (FUPET) c/o AIST | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
Nissan Research Center (NRC), Nissan Motor Co., Ltd. : R&D Partnership for Future Power Electronics Technology (FUPET) c/o AIST | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
Energy Semiconductor Electronics Research Laboratory (ESERL), AIST | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
Energy Semiconductor Electronics Research Laboratory (ESERL), AIST | ||||||
出版者 | ||||||
出版者 | 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS) | |||||
出版者(英) | ||||||
出版者 | Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) | |||||
書誌情報 |
第21回高温エレクトロニクス研究会 en : Proceedings of the 21st ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS p. 5-13, 発行日 2011-04 |
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会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 第21回高温エレクトロニクス研究会(2011年3月2日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県 | |||||
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等)(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | The 21st ISAS Research Meeting on High Temperature Electronics (March 2, 2011. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan | |||||
資料番号 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 資料番号: SA6000018002 |