Anomalous Charge Collection in Silicon Carbide Schottky Barrier Diodes and Resulting Permanent Damage and Single-Event Burnout

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【JAXA Repository リニューアルのお知らせ】

JAXA Repositoryは2020年4月10日より、JAIRO Cloudへ移行いたしました。

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Permalink : http://id.nii.ac.jp/1696/00021488/

アイテムタイプ	学術雑誌論文 / Journal Article
言語	英語
著者（英）	Kuboyama Satoshi Kamezawa Chihiro Ikeda Naomi Hirao Toshio Ohyama Hidenori
著者所属（英）	Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) Japan Atomic Energy Agency(JAEA) Kumamoto National College of Technology
出版者（英）	The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., NUCLEAR&PLASMA SCIENCES SOCIETY(IEEE)(NPSS)
雑誌名	IEEE Transactions on Nuclear Science
巻	53
号	6
ページ	3343 - 3348
発行年	2006-12
ISSN	0018-9499
DOI	info:doi/10.1109/TNS.2006.885165
資料番号	資料番号: ARDS06116000

★2020年12月2日

システムメンテナンスのお知らせ

12月10日（木）15:00-18:00の作業時間中、1～1時間半程度、サイトを閉鎖させていただきます。ご利用の皆様にはご迷惑をおかけいたしますが、よろしくお願いします。

★2020年4月10日
【JAXA Repository リニューアルのお知らせ】
JAXA Repositoryは2020年4月10日より、JAIRO Cloudへ移行いたしました。

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