Soft-error rate in a logic LSI estimated from SET pulse-width measurements

doi:http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2009.2033795

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学術雑誌論文 (Journal Article)

Permalink : http://id.nii.ac.jp/1696/00024113/

Soft-error rate in a logic LSI estimated from SET pulse-width measurements 利用統計を見る

アイテムタイプ	学術雑誌論文 / Journal Article
言語	英語
著者	牧野高紘小林大輔廣瀬和之高橋大輔石井茂草野将樹小野田忍平尾敏雄大島武
著者（英）	Makino T. Kobayashi Daisuke Hirose Kazuyuki Takahashi D. Ishii S. Kusano M. Onoda S. Hirao T. Ohshima T.
著者所属	総合研究大学院大学 : 日本原子力研究開発機構宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部（JAXA) (ISAS) : 総合研究大学院大学宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部（JAXA) (ISAS) : 総合研究大学院大学三菱重工業三菱重工業三菱重工業日本原子力研究開発機構日本原子力研究開発機構日本原子力研究開発機構
著者所属（英）	Department of Space and Astronautical Science, School of Physical Science, The Graduate University for Advanced Studies : Japan Atomic Energy Agency Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) : Graduate University for Advanced Studies Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) : Graduate University for Advanced Studies Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Japan Atomic Energy Agency Japan Atomic Energy Agency Japan Atomic Energy Agency
出版者（英）	Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
雑誌名	IEEE Transactions on Nuclear Science
巻	56
号	6
ページ	3180 - 3184
発行年	2009-12
ISSN	0018-9499
書誌レコードID	AA00667999
DOI	info:doi/10.1109/TNS.2009.2033795
資料番号	資料番号: SA1000803000

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★2020年4月10日

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