@article{weko_45449_1,
   author	 = "矢部,一博 and 田中,大起 and 野田,克史 and 菅沼,貞雄 and 岡,克己 and 久保山,智司 and 松田,純夫",
   title	 = "高信頼性システムのためのLSIプロセス診断による評価",
   journal	 = "沖テクニカルレビュー",
   year 	 = "2005",
   volume	 = "72",
   number	 = "2",
   pages	 = "14--19",
   month	 = "apr"
}