Statistical Analysis of the Charge Collected in SOI and Bulk Devices Under Heavy lon and Proton Irradiation-Implications for Digital SETs

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【JAXA Repository リニューアルのお知らせ】

JAXA Repositoryは2020年4月10日より、JAIRO Cloudへ移行いたしました。

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インデックス

Permalink : http://id.nii.ac.jp/1696/00023878/

アイテムタイプ	学術雑誌論文 / Journal Article
言語	英語
著者	廣瀬和之
著者（英）	Ferlet-Cavrois V. Paillet P. Gaillardin M. Lambert D. Baggio J. Schwank J. R. Vizkelethy G. Shaneyfelt M. R. Hirose Kazuyuki Blackmore E. W. Faynot O. Jahan C. Tosti L.
著者所属	宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
著者所属（英）	CEA/DIF CEA/DIF IMEP-ENSERG, Minatech-INPG CEA/DIF CEA/DIF Sandia National Laboratories, Albuquerque Sandia National Laboratories, Albuquerque Sandia National Laboratories, Albuquerque Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) TRIUMF, Vancouver CEA-LETI CEA-LETI CEA-LETI
出版者（英）	Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.
雑誌名	IEEE Transactions on Nuclear Science
巻	53
号	6(1)
ページ	3242 - 3252
発行年	2006-12
内容記述	著者人数：13名
ISSN	0018-9499
書誌レコードID	AA00667999
DOI	info:doi/10.1109/TNS.2006.885111
資料番号	資料番号: SA1000560000

★2020年4月10日

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