@inproceedings{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00017537,
 author = {山下, 将嗣 and 大谷, 知行 and 松本, 徹 and 御堂, 義博 and 三浦, 克介 and 二川, 清 and 中前, 幸治 and Yamashita, Masatsugu and Ohtani, Tomoyuki and Matsumoto, Tohru and Mido, Yoshihiro and Miura, Katsusuke and Nikawa, Kiyoshi and Nakamae, Kohji},
 book = {第22回高温エレクトロニクス研究会, Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS},
 month = {Jul},
 note = {第22回高温エレクトロニクス研究会（2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)）, 相模原市, 神奈川県, 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 21, 2012. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan, 資料番号: SA6000030003},
 pages = {19--34},
 publisher = {宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所  (JAXA)(ISAS), Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)},
 title = {テラヘルツ放射を用いた集積回路診断法の開発},
 year = {2012}
}