@inproceedings{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00017540,
 author = {大井, 明彦 and Ohi, Akihiko},
 book = {第22回高温エレクトロニクス研究会, Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS},
 month = {Jul},
 note = {第22回高温エレクトロニクス研究会（2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)）, 相模原市, 神奈川県, 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 21, 2012. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan, 資料番号: SA6000030006},
 pages = {68--82},
 publisher = {宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所  (JAXA)(ISAS), Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)},
 title = {高耐圧パワーMOSFETの故障解析の現状と課題},
 year = {2012}
}