@inproceedings{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00017544,
 author = {谷本, 智 and 松井, 康平 and 村上, 善則 and 山口, 浩 and 奥村, 元 and Tanimoto, Satoshi and Matsui, Kohei and Murakami, Yoshinori and Yamaguchi, Hiroshi and Okumura, Hajime},
 book = {第21回高温エレクトロニクス研究会, Proceedings of the 21st ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS},
 month = {Apr},
 note = {第21回高温エレクトロニクス研究会（2011年3月2日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所（JAXA)(ISAS)）, 相模原市, 神奈川県, The 21st ISAS Research Meeting on High Temperature Electronics (March 2, 2011. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan, 資料番号: SA6000018002},
 pages = {5--13},
 publisher = {宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS), Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)},
 title = {Assessment of Au-Ge Die Attachment for an Extended Junction Temperature Range in Power Applications},
 year = {2011}
}