@inproceedings{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00017562,
 author = {牧野, 高絋 and Makino, Takahiro},
 book = {高温エレクトロニクス研究会, Proceedings of ISAS research meeting on High Temperature Electronics},
 month = {Jun},
 note = {第19回高温エレクトロニクス研究会(2009年3月12日, 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部相模原キャンパス), The 19th ISAS research meeting on High Temperature Electronics (Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA), March 12, 2009), 資料番号: AA0064294006},
 pages = {79--88},
 publisher = {宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部, Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)},
 title = {SOIデバイスのシングルイベントエラーレートの計測と予測},
 volume = {19},
 year = {2009}
}