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アイテム
宇宙用半導体デバイスのスクリーニングと温度加速試験
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/17575
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/175750c5453a0-a1c5-449e-87d7-9c8d12ac8ecd
| アイテムタイプ | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2015-03-26 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 宇宙用半導体デバイスのスクリーニングと温度加速試験 | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||
| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||||||
| その他のタイトル（英） | ||||||||||
| その他のタイトル | Screening of Semiconductor Devices for Space Applications -Thermally Accelerated Test- | |||||||||
| 著者 |
大串, 義雄
× 大串, 義雄
× Ohkushi, Yoshio
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| 著者所属 | ||||||||||
| 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部（JAXA)(ISAS) 品質保証室 | ||||||||||
| 著者所属（英） | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) | ||||||||||
| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS) | |||||||||
| 出版者（英） | ||||||||||
| 出版者 | Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) | |||||||||
| 書誌情報 |
第17回高温エレクトロニクス研究会 en : Proceedings of the 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS p. 12-27, 発行日 2007-06 |
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| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | 第17回高温エレクトロニクス研究会（2007年2月26日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)）, 相模原市, 神奈川県 | |||||||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等）（英） | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (February 26, 2007. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan | |||||||||
| 資料番号 | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | 資料番号: SA6000029003 | |||||||||
