@inproceedings{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00017575,
 author = {大串, 義雄 and Ohkushi, Yoshio},
 book = {第17回高温エレクトロニクス研究会, Proceedings of the 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS},
 month = {Jun},
 note = {第17回高温エレクトロニクス研究会（2007年2月26日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)）, 相模原市, 神奈川県, 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (February 26, 2007. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan, 資料番号: SA6000029003},
 pages = {12--27},
 publisher = {宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS), Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)},
 title = {宇宙用半導体デバイスのスクリーニングと温度加速試験},
 year = {2007}
}