@inproceedings{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00017583,
 author = {松沢, 一也 and 木下, 敦寛 and 三谷, 祐一郎 and 渡邊, 健太郎 and 平岡, 孝之 and 佐藤, 項一 and Matsuzawa, Kazuya and Kinoshita, Atsuhiro and Mitani, Yuichiro and Watanabe, Kentaro and Hiraoka, Takayuki and Sato, Koichi},
 book = {第16回高温エレクトロニクス研究会, Proceedings of the 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS},
 month = {Apr},
 note = {第16回高温エレクトロニクス研究会（2006年3月10日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)）, 相模原市, 神奈川県, 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 10, 2006. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan, 資料番号: SA6000028003},
 pages = {21--36},
 publisher = {宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS), Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)},
 title = {ESD保護素子の発熱とその影響のシュミレーション},
 year = {2006}
}