WEKO3
アイテム
簡略化プロセスによる耐熱I²Lの試作結果と耐熱I²Lを用いた2ビットマイコンの試作
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/2002653
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/2002653ba934b8a-1def-4bac-97a5-628c92ecdcf3
| アイテムタイプ | WEKO3_シンポジウム等 / Symposium(1) | |||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2026-03-12 | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | 簡略化プロセスによる耐熱I²Lの試作結果と耐熱I²Lを用いた2ビットマイコンの試作 | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
内藤, 博年
× 内藤, 博年
× 倉地, 耕平
× 野本, 了
× 右高, 正俊
|
|||||||||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||||||||||
| 著者所属 | 豊田工業大学 : アイシン精機株式会社(ja), アイシン精機株式会社(ja), アイシン精機株式会社(ja), 豊田工業大学(ja) Toyota Technological Institute : Aisin Seiki Co., Ltd.(en), Aisin Seiki Co., Ltd.(en), Aisin Seiki Co., Ltd.(en), Toyota Technological Institute(en) |
|||||||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | 宇宙科学研究所 (ISAS)(ja) Institute of Space and Astronautical Science (ISAS)(en) |
|||||||||||||||||||||
| bibliographic_information |
ja : 第5回高温エレクトロニクス研究会 en : Proceedings of the 5th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS 発行日 1995-03 |
|||||||||||||||||||||
| 会議概要 | ||||||||||||||||||||||
| 会議名 | 第5回高温エレクトロニクス研究会(ja) 5th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(en) |
|||||||||||||||||||||
| 開催期間 | 1995-03-02 | |||||||||||||||||||||
| 開催会場 | 宇宙科学研究所 (ISAS), 相模原市, 神奈川県(ja) Institute of Space and Astronautical Science (ISAS), Sagamihara, Kanagawa Japan(en) |
|||||||||||||||||||||
| 開催国 | JPN | |||||||||||||||||||||
| 資料番号(Local) | ||||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | 資料番号: SA6000225002 | |||||||||||||||||||||