WEKO3
アイテム
高温における電子デバイスの信頼性
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/2002685
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/20026853a386159-cac8-46d5-872b-f051ea39c19f
| アイテムタイプ | WEKO3_シンポジウム等 / Symposium(1) | |||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2026-03-12 | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | 高温における電子デバイスの信頼性 | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
高久, 清
× 高久, 清
× 小島, 猛
× 柳沢, 武
× 熊谷, 正夫
× 近藤, 敏之
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| 著者所属 | ||||||||||||||||||||||
| 著者所属 | 電子技術総合研究所(ja), 電子技術総合研究所(ja), 電子技術総合研究所(ja), 神奈川高度計測センター(ja), 神奈川高度計測センター(ja) Electrotechnical Laboratory(en), Electrotechnical Laboratory(en), Electrotechnical Laboratory(en), ―(en), ―(en) |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | 宇宙科学研究所 (ISAS)(ja) Institute of Space and Astronautical Science (ISAS)(en) |
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| bibliographic_information |
ja : 第2回高温エレクトロニクス研究会 en : Proceedings of the 2nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS 発行日 1992-03 |
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| 会議概要 | ||||||||||||||||||||||
| 会議名 | 第2回高温エレクトロニクス研究会(ja) 2nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(en) |
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| 開催期間 | 1992-03-06 | |||||||||||||||||||||
| 開催会場 | 宇宙科学研究所 (ISAS), 相模原市, 神奈川県(ja) Institute of Space and Astronautical Science (ISAS), Sagamihara, Kanagawa Japan(en) |
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| 開催国 | JPN | |||||||||||||||||||||
| 資料番号(Local) | ||||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | 資料番号: SA6000228004 | |||||||||||||||||||||
