WEKO3
アイテム
Single Event Effects. A Test Strategy for New Technologies and Nowadays Needs
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/20987
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/20987213c714f-c2f1-4622-8fe4-045968a220e1
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2018-08-03 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Single Event Effects. A Test Strategy for New Technologies and Nowadays Needs | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||||
| 資源タイプ | conference object | |||||||
| アクセス権 | ||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||||
| 著者 |
Fernandez, Gonzalo
× Fernandez, Gonzalo
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| 著者所属（英） | ||||||||
| en | ||||||||
| ALTER Technology Group Spain | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 宇宙航空研究開発機構研究開発本部電子部品・デバイス・材料グループ(JAXA) | |||||||
| 出版者（英） | ||||||||
| 出版者 | Electronic Devices and Materials Group, Aerospace Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) | |||||||
| 書誌情報 | p. 1-40, 発行日 2009-10-15 | |||||||
| 関係URI | ||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||
| 関連識別子 | https://eeepitnl.tksc.jaxa.jp/mews/EN/22nd/presentation_e.htm | |||||||
| 関連名称 | https://eeepitnl.tksc.jaxa.jp/mews/EN/22nd/presentation_e.htm | |||||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 第22回マイクロエレクトロニクスワークショップ(MEWS22) (2009年10月15日-16日. つくば国際会議場), つくば市, 茨城 | |||||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等）（英） | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | The 22nd Microelectronics Workshop (MEWS22) (October 15-16, 2009. Tsukuba International Congress Center), Tsukuba, Ibaraki, Japan | |||||||
| 内容記述 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 形態: カラー図版あり | |||||||
| 内容記述（英） | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | Physical characteristics: Original contains color illustrations | |||||||
| 資料番号 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 資料番号: AD1810001014 | |||||||
