@article{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00021625,
 author = {鈴木, 克徳 and 柿沼, 遠方 and 芳原, 容英 and Linscott, I. R. and Inan, U. S. and 佐藤, 光輝 and 高橋, 幸弘 and 牛尾, 知雄 and 河崎, 善一郎 and 森本, 健志 and 山崎, 敦 and 鈴木, 睦 and Suzuki, Katsunori and Kakinuma, Kanata and Hobara, Yasuhide and Linscott, I. R. and Inan, U. S. and Sato, Mitsuteru and Takahashi, Yukihiro and Ushio, Tomoo and Kawasaki, Zenichiro and Morimoto, Takeshi and Yamazaki, Atsushi and Suzuki, Makoto},
 issue = {1},
 journal = {大気電気学会誌, Taiki denki gakkaishi},
 month = {Apr},
 note = {形態: 図版あり, Physical characteristics: Original contains illustrations, 資料番号: DS1540140005},
 pages = {92--93},
 title = {国際宇宙ステーションGLIMSミッションにより観測されたホイスラを用いた電離層F層の電子密度推定},
 volume = {9},
 year = {2015}
}