WEKO3
アイテム
XPS time-dependent measurement of SiO2/Si and HfAlOx/Si interfaces
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/24133
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/241332ec9a759-f68f-48e9-9514-dcebaf9fcd4c
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2015-03-26 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | XPS time-dependent measurement of SiO2/Si and HfAlOx/Si interfaces | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||
| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||||||
| 著者 |
廣瀬, 和之
× 廣瀬, 和之
× Hirose, Kazuyuki
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| 著者所属 | ||||||||||
| 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部（JAXA) (ISAS) | ||||||||||
| 著者所属（英） | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) | ||||||||||
| 出版者（英） | ||||||||||
| 出版者 | Elsevier | |||||||||
| 書誌情報 |
en : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 巻 176, 号 1-3, p. 46-51, 発行日 2010-01 |
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| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 0368-2048 | |||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||
| 収録物識別子 | AA00697082 | |||||||||
| DOI | ||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||
| 関連識別子 | http://dx.doi.org/10.1016/j.elspec.2009.06.003 | |||||||||
| 関連名称 | info:doi/10.1016/j.elspec.2009.06.003 | |||||||||
| 資料番号 | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | 資料番号: SA1000817000 | |||||||||
