@article{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00026134,
 author = {津田, 浩 and 佐藤, 英一 and 中島, 富男 and 中村, 英之 and 荒川, 敬弘 and 塩野, 秀幸 and 湊, 将志 and 倉林, 秀幸 and 佐藤, 明良 and Tsuda, Hiroshi and Sato, Eiichi and Nakajima, Tomio and Nakamura, Hideyuki and Arakawa, Takahiro and Shiono, Hideyuki and Minato, Masashi and Kurabayashi, Hideyuki and Sato, Akiyoshi},
 issue = {10},
 journal = {非破壊検査, Journal of N. D. I.},
 month = {},
 note = {Accepted: 2010-08-20, 資料番号: SA1002836000},
 pages = {520--525},
 title = {ひずみ無依存ファイバ・ブラッグ・グレーティングセンサの特性評価とひずみ変動条件下で計測されたAEの周波数解析},
 volume = {59},
 year = {2010}
}