| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
Correlation between Photoluminescence Lifetime and Interface Trap Density in Silicon-on-Insulator Wafers |
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言語 |
en |
| 言語 |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
田島, 道夫
吉田, 晴彦
井深, 重夫
岸野, 正剛
Tajima, Michio
Yoshida, Haruhiko
Ibuka, Shigeo
Kishino, Seigo
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| 著者所属 |
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宇宙科学研究所 (ISAS) |
| 著者所属 |
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姫路工業大学 |
| 著者所属 |
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宇宙科学研究所 (ISAS) |
| 著者所属 |
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姫路工業大学 |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science (ISAS) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Himeji Institute of Technology |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science (ISAS) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Himeji Institute of Technology |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics |
| 書誌情報 |
en : Japanese Journal of Applied Physics Part 1-Regular Papers & Short Notes.
巻 42,
号 4B,
p. L429-L431,
発行日 2003-04
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| 内容記述（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Accepted: 2003-03-03 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0021-4922 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA10457675 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1143/jjap.42.l429 |
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関連名称 |
info:doi/10.1143/jjap.42.l429 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1003807000 |
