| Item type |
紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
汚染電極による電子密度の過少評価について |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
departmental bulletin paper |
| その他のタイトル（英） |
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その他のタイトル |
Undevestimation of Electron Density by a Contaminated Langmuir Probe |
| 著者 |
小山, 孝一郎
平尾, 邦雄
OYAMA, Koh-ichiro
HIRAO, Kunio
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| 著者所属 |
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東京大学宇宙航空研究所 |
| 著者所属 |
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東京大学宇宙航空研究所 |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Aeroautical Science University of Tokyo |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Aeroautical Science University of Tokyo |
| 出版者 |
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出版者 |
東京大学宇宙航空研究所 |
| 書誌情報 |
東京大学宇宙航空研究所報告
巻 10,
号 3_B,
p. 561-568,
発行日 1974-09
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
以前に提唱されたcontamination layer modelによるとプローブ表面が絶縁層でおおわれている時に得られる電子密度はまわりのプラズマ密度が高くなるにつれ少なめlごみつもられることがわかる。上記のことがらは特に電離層プラズマにおける電子密度測定で重要である。本論文は電子密度過少評価についてまず理論的および実験的に簡単な考察を行い,しかるのちに電離層プラズマにおいてよごれたプローブによってひきおこされる電子密度の過少評価と考えられる実験結果を示す。 |
| 抄録（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Contamination layer model predicts that contaminated electrode gives lower electron density than the true value and that the effect is increased as the increase of the ambient plasma density. The above prediction was confirmed in laboratory plasma as well as in space plasma. Consequently the serious influence of the probe contamination upon the density evaluation is impressed. |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0563-8100 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AN00161914 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA0124424000 |
SA0124424.pdf (537.2 kB)
