@article{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00031599,
 author = {小山, 孝一郎 and 平尾, 邦雄 and 竹口, 晋 and OYAMA, Kohichiro and HIRAO, Kunio and TAKEGUCHI, Susumu},
 issue = {1_A},
 journal = {東京大学宇宙航空研究所報告},
 month = {Jan},
 note = {通常用いられているDCラングミューアプローブでは電極表面に付着した汚染物質のために正確な情報を得ることができないことはよく知られた事実である。DCプローブを用いて信頼できる電子温度,電子密度をもとめることは,(1)電子温度プローブ,(2)高速掃引の汚染DCプローブ,(3)Glass sealed Langmuir probeの使用によって可能である。これらの方法のうち,(1),(2)の方法については既に発表したので,本論文ではGlass sealed Langmuir probeについて述べる。Glass sealed Langmuir probeは電子温度,電子密度の測定はいうまでもないが,特に熱的電子のenergy分布測定にその効果を発揮すると思われる。, It seems to be a well known fact that ordinary (unclean) Langmuir probe gives erroneous result in the ionosphere study because of the contamination layer of the electrode surface. To get reliable information from Langmuir probe method, three means are considered; (1) the use of electron temperature probe, (2) to sweep the probe bias very quickly (rapid sweep Langmuir probe), (3) the use of glass sealed Langmuir probe. As the first two were already discussed, this paper describes the third method "glass sealed Langmuir probe". It is strongly recommended that glass sealed Langmuir probe should be used for the measurement of electron energy distribution of thermal components. The application of the glass sealed Langmuir probe to the electron density measurement is also discussed., 資料番号: SA0124556000},
 pages = {35--45},
 title = {Glass sealed Langmuir probeによる電子密度,温度の測定},
 volume = {11},
 year = {1975}
}