@article{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00032212,
 author = {河田, 幸三 and 本堂, 明 and 橋本, 彰三 and KAWATA, Kozo and HONDO, Akira and HASHIMOTO, Shozo},
 issue = {3_B},
 journal = {東京大学宇宙航空研究所報告},
 month = {Sep},
 note = {S/Nゲージの低サイクル疲労において,定ひずみ繰返し負荷回数の増加に伴い,半徴視的損傷が金属顕徴鏡視野のもとで現われることが明らかにされた.これは金属材料の塑性変形による抵抗変化の原因として従来考えられていた点欠陥,転位と共に,あわせ考慮されるべきであろう., It is found that semi-microscopic damage appears in the low cycle fatigue of S/N gage under a constant strain condition. This semi-microscopic damage should be considered as the source of electric resistance variation of metallic materials under plastic deformation, with point-defect and dislocation already mentioned., 資料番号: SA0125364000},
 pages = {729--737},
 title = {航空材料の疲れによる力学的劣化とその検出(第2報) : S/Nゲージの低サイクル疲労での特異な挙動についての予備実験},
 volume = {6},
 year = {1970}
}