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  1. コンテンツタイプ
  2. 紀要論文 (Departmental Bulletin Paper)
  1. 機関資料(JAXA, former ISAS, NAL, NASDA)
  2. 旧機関資料 (JAXA, former-ISAS, NAL, NASDA)
  3. 宇宙科学研究所: ISAS Report等を含む (former ISAS (The Institute of Space and Astronautical Science): Including ISAS Report etc.)
  4. 宇宙科学研究所報告:特集

多層膜反射鏡の宇宙 X 線観測器への応用

https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/33001
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/33001
31120a11-ffd7-40ab-930d-c79c071fbfab
名前 / ファイル ライセンス アクション
SA0166840.pdf SA0166840.pdf (756.3 kB)
アイテムタイプ 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2015-03-26
タイトル
タイトル 多層膜反射鏡の宇宙 X 線観測器への応用
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他のタイトル(英)
その他のタイトル Application of Multilayer Reflectors to X-Ray Optic System for Cosmic X-Ray Observation
著者 山下, 広順

× 山下, 広順

山下, 広順

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常深, 博

× 常深, 博

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北本, 俊二

× 北本, 俊二

北本, 俊二

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廿日出, 勇

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三宅, 明

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上野, 良弘

× 上野, 良弘

上野, 良弘

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YAMASHITA, Koujun

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TSUNEMI, Hiroshi

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KITAMOTO, Shunji

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HATSUKADE, Isamu

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MIYAKE, Akira

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UENO, Yoshihiro

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著者所属
大阪大学理学部
著者所属
大阪大学理学部
著者所属
大阪大学理学部
著者所属
大阪大学理学部
著者所属
キャノン中央研究所
著者所属
大阪大学理学部
出版者
出版者 宇宙科学研究所
出版者(英)
出版者 Institute of Space and Astronautical Science
書誌情報 宇宙科学研究所報告. 特集: 宇宙観測研究報告

巻 21, p. 31-45, 発行日 1988-03
抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Development of multilayer reflectors makes it possible to apply to the grazing and normal incidence X-ray optic system for the cosmic X-ray observation in 0.1-10keV region. For the grazing incidence X-ray telescope, multilayer reflectors have an advantage to make larger the glancing angle and to extend the energy range up to 10keV in the fixed configuration. The normal incidence X-ray telescope is attainable in the energy range below 0.4keV, though the sensitive energy band is limited by Bragg condition estimated from the layer thickness and the number of layer pairs. Multilayers are also useful optical elements to fabricate the X-ray spectrometer and polarimeter. We are fabricating multilayer reflectors with electron beam evaporation method in ultra-high vacuum. Material combinations are Mo/C, Mo/Si and Ni/C with 5-20 layer pairs and the layer thickness of 31-100A. They are deposited on flat and figured substrates of float glass and superpolished glass with the surface roughness of 2-3A (rms). Multilayers thus fabricated are evaluated by measuring the reflectivity, the wavelength resolution and Bragg angle with three characteristic X-rays of Cu-Kα(1.54A), Si-Kα(7.13A) and C-Kα(44.7A). Further investigations are carried out with the monochromatized synchrotron radiation in 14-250A band. The peak reflectivity of Cu-Kα is obtained to be 80% for Mo/C in the grazing incidence and that of λ160A to be more than 30% for Mo/Si in near normal incidence.
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0285-9920
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00354485
資料番号
内容記述タイプ Other
内容記述 資料番号: SA0166840000
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Ver.1 2023-06-21 00:18:26.293903
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