@inproceedings{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00039059,
 author = {矢部, 一博 and 田中, 大起 and 野田, 克史 and 菅沼, 貞雄 and 岡, 克己 and 久保山, 智司 and 松田, 純夫 and Yabe, Kazuhiro and Tanaka, Daiki and Noda, Katsufumi and Suganuma, Sadao and Oka, Katsumi and Kuboyama, Satoshi and Matsuda, Sumio},
 month = {},
 note = {第34回日科技連信頼性・保全性シンポジウム(2004年7月), 資料番号: ARDS04218000},
 pages = {55--60},
 publisher = {日本科学技術連盟},
 title = {高信頼性システムのためのLSIプロセス診断による評価},
 year = {2004}
}