@techreport{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00039954,
 author = {石田, 清道 and 佐野, 政明 and 松崎, 貴至 and 三保, 和之 and 濱村, 修 and Ishida, Kiyomichi and Sano, Masaaki and Matsuzaki, Takashi and Miho, Kazuyuki and Hamamura, Osamu},
 month = {Jul},
 note = {宇宙往還機などの耐熱材料評価試験において表面温度の評定や内部への入熱量の推定を精度よく行うためには、高温での放射率を正確に知ることが極めて重要である。この放射率を試料移動法により試験温度範囲1,073Kから2,773Kまで計測する高温放射率計測装置が1993年に導入された。本装置により求められた放射率の値は、供試体の材質によっては装置の特性により、必ずしも満足した結果が得られないため補正が必要となった。そこで計測結果の精度向上を図るため、供試体に熱電対を埋め込みその計測値から放射率を算出する補正方法を考案した。その結果、比較的放射率の高い材料においてはほぼ妥当な値が求められ、放射率計測試験結果の精度向上の見通しが得られた。本報告は、装置の計測原理、装置構造の詳細な説明、データ補正方法および解析結果などについて述べる。, Emissivity is one of the most important parameters for evaluation the high-temperature behavior of refractory materials used in aerospace applications. An emissivity measuring apparatus (emissiometer) has been introduced for the development and testing of Thermal Protection System (TPS) materials. It can determine the emissivity under very high-temperature conditions up to 2,773 K. Built-in data reduction procedures were examined and a correction method was developed in order to obtain valid results. Analysis based on this method showed reasonable results on a graphite specimen. This paper outlines the apparatus and measurement principle are given first and a series of verification tests., 資料番号: AA0001070000, レポート番号: NAL TM-715},
 title = {高温放射率計測装置の構造と性能},
 year = {1997}
}