WEKO3
アイテム / Relationship between soft error rate in SOI-SRAM and amount of generated charge by high energy ion probes / 61889025
61889025
ファイル | ライセンス |
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61889025.pdf (205.3 kB) sha256 7941d1191bed2a298f1ae86a550738b4143132670c427466d481a3268949c425 |
公開日 | 2015-03-26 | |||||
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ファイル名 | 61889025.pdf | |||||
本文URL | https://jaxa.repo.nii.ac.jp/record/4319/files/61889025.pdf | |||||
ラベル | 61889025.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 205.3 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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