WEKO3
アイテム / Measurement of Distance-dependent Multiple Upsets of Flip-Flops in 65nm CMOS Process / 61889034
61889034
ファイル | ライセンス |
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61889034.pdf (383.6 kB) sha256 7474bd3e282732027b932ad3a2c67ee04d70ca71b0bca3b5e712cc820ce4a072 |
公開日 | 2015-03-26 | |||||
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ファイル名 | 61889034.pdf | |||||
本文URL | https://jaxa.repo.nii.ac.jp/record/4328/files/61889034.pdf | |||||
ラベル | 61889034.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 383.6 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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