@article{oai:jaxa.repo.nii.ac.jp:00045449,
 author = {矢部, 一博 and 田中, 大起 and 野田, 克史 and 菅沼, 貞雄 and 岡, 克己 and 久保山, 智司 and 松田, 純夫 and Yabe, Kazuhiro and Tanaka, Daiki and Noda, Katsufumi and Suganuma, Sadao and Oka, Katsumi and Kuboyama, Satoshi and Matsuda, Sumio},
 issue = {2},
 journal = {沖テクニカルレビュー},
 month = {Apr},
 note = {資料番号: ARDS04290000},
 pages = {14--19},
 title = {高信頼性システムのためのLSIプロセス診断による評価},
 volume = {72},
 year = {2005}
}