| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2022-10-24 |
| タイトル |
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タイトル |
Simulation-Based Understanding of “Charge-Sharing Phenomenon” Induced by Heavy-Ion Incident on a 65nm Bulk CMOS Memory Circuit |
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言語 |
en |
| 言語 |
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言語 |
eng |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
single event upset |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
charge sharing |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
device simulation |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
65 nm bulk CMOS memory |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
丸, 明史
松田, 晃史
久保山, 智司
吉本, 護
MARU, Akifumi
MATSUDA, Akifumi
KUBOYAMA, Satoshi
YOSHIMOTO, Mamoru
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| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構(JAXA) : 東京工業大学 |
| 著者所属 |
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東京工業大学 |
| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構(JAXA) |
| 著者所属 |
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東京工業大学 |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) : Tokyo Institute of Technology |
| 著者所属（英） |
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en |
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Tokyo Institute of Technology |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Tokyo Institute of Technology |
| 出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会 |
| 出版者（英） |
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出版者 |
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers (IEICE) |
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Electronics
巻 E105.C,
号 1,
p. 47-50,
発行日 2022-01-01
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| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0916-8524 |
| ISSNONLINE |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
1745-1353 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA10826283 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11510332 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
https://doi.org/10.1587/transele.2021ECS6008 |
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関連名称 |
info:doi/10.1587/transele.2021ECS6008 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: PA2210001000 |
