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低地球軌道上の原子状酸素による酸化膜形成とその特徴(3)
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/13653
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/13653ffb83494-5e2b-4e01-9360-ebd7e8a0832f
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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64113036.pdf (217.5 kB)
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Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||
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公開日 | 2015-03-26 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 低地球軌道上の原子状酸素による酸化膜形成とその特徴(3) | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
言語 | en | |||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | atomic oxygen, oxidation, LEO, space environmental effect | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
資源タイプ | conference paper | |||||
その他のタイトル(英) | ||||||
その他のタイトル | Characteristics of the Formation of Silicon Dioxide by Atomic Oxygen in LEO (3) | |||||
著者 |
横田, 久美子
× 横田, 久美子× 田川, 雅人× 吉越, 章隆× 寺岡, 有殿× Yokota, Kumiko× Tagawa, Masahito× Yoshigoe, Akitaka× Teraoka, Yuden |
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著者所属 | ||||||
値 | 神戸大学工学部機械工学科 | |||||
著者所属 | ||||||
値 | 神戸大学工学部機械工学科 | |||||
著者所属 | ||||||
値 | 日本原子力研究開発機構 | |||||
著者所属 | ||||||
値 | 日本原子力研究開発機構 | |||||
著者所属(英) | ||||||
言語 | en | |||||
値 | Graduate School of Engineering, Kobe University | |||||
著者所属(英) | ||||||
言語 | en | |||||
値 | Graduate School of Engineering, Kobe University | |||||
著者所属(英) | ||||||
言語 | en | |||||
値 | Japan Atomic Energy Agency (JAEA) | |||||
著者所属(英) | ||||||
言語 | en | |||||
値 | Japan Atomic Energy Agency (JAEA) | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 | |||||
出版者(英) | ||||||
出版者 | Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) | |||||
書誌情報 |
宇宙利用シンポジウム en : Space Utilization Research: Proceedings of Space Utilization Symposium 巻 22, 発行日 2006-03 |
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会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 第22回宇宙利用シンポジウム(2006年1月17日-19日, 日本学術会議6階会議室 六本木、東京) | |||||
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等)(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | The Twenty-second Space Utilization Symposium (January 17-19, 2006: Science Council of Japan, Roppongi, Tokyo, Japan) | |||||
抄録(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | The oxide film formed on Si(001) in a simulated low Earth orbit (LEO) space environment was analyzed by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy (SR-PES). SR-PES results clearly indicated that the amount of suboxides at the Si/SiO2 interface formed in a simulated LEO environment at room temperature was much lower than that formed by an ordinary high-temperature oxidation process. | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 共催: 日本学術会議 | |||||
内容記述(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | Meeting sponsors: The Science Council of Japan, The Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (ISAS)(JAXA) | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN10324210 | |||||
資料番号 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 資料番号: AA0064113036 |