| Item type |
会議発表論文 / Conference Paper(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
Laboratory experiments of X-ray fluorescence intensity by simulating lunar and planetary rough surfaces |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
月面 |
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Other |
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主題 |
惑星表面 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
レゴリス |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
X線蛍光 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
補正 |
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Other |
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主題 |
粒度 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
入射角 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
太陽X線 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
lunar surface |
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言語 |
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Other |
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主題 |
planetary surface |
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言語 |
en |
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Other |
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主題 |
regolith |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
X-ray fluorescence |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
correction |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
grain size |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
incident angle |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
solar X-ray |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 |
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資源タイプ |
conference paper |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
丸山, 陽子
白井, 慶
山本, 幸生
岡田, 達明
加藤, 學
Maruyama, Yoko
Shirai, Kei
Yamamoto, Yukio
Okada, Tatsuaki
Kato, Manabu
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| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 |
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宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 |
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宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 |
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宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 |
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宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space and Astronautical Science |
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Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space and Astronautical Science |
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Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space and Astronautical Science |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space and Astronautical Science |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space and Astronautical Science |
| 出版者 |
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出版者 |
宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA/ISAS) |
| 書誌情報 |
第39回月・惑星シンポジウム
en : Proceedings of the 39th ISAS Lunar and Planetary Symposium
p. 65-68,
発行日 2006-08-07
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| 抄録（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Planetary surfaces are usually covered with regolith, which is far from ideal for detailed X-ray fluorescence analysis because its powdery rough surface affects XRF (X-Ray Fluorescence) intensities. Kuwada et al. (1997) pointed out this phenomenon could cause a serious error in determining rock-types, particularly observed at large phase angles. We measured XRF intensities for crashed rock samples in various grain sizes and investigated the angular dependency. Our results indicate that (1) XRF intensity decreases with increase in particle size, and its trend is more remarkable for lighter elements; (2) XRF normal to the surface is more intense for the lighter elements at the larger incident angles; (3) grain size effect seems more remarkable at larger phase angles; (4) XRF intensities should be corrected at grain size over 35 microns for Si and Ca, and over 67.5-135 microns for Fe under this experimental configuration. These results can support the shadowing and shading effects caused by microscopic roughness of powdery surface. |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: AA0063505017 |
