| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
Statistical Analysis of the Charge Collected in SOI and Bulk Devices Under Heavy lon and Proton Irradiation-Implications for Digital SETs |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
廣瀬, 和之
Ferlet-Cavrois, V.
Paillet, P.
Gaillardin, M.
Lambert, D.
Baggio, J.
Schwank, J. R.
Vizkelethy, G.
Shaneyfelt, M. R.
Hirose, Kazuyuki
Blackmore, E. W.
Faynot, O.
Jahan, C.
Tosti, L.
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| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS) |
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CEA/DIF |
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CEA/DIF |
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IMEP-ENSERG, Minatech-INPG |
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CEA/DIF |
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CEA/DIF |
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en |
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Sandia National Laboratories, Albuquerque |
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en |
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Sandia National Laboratories, Albuquerque |
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en |
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Sandia National Laboratories, Albuquerque |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) |
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en |
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TRIUMF, Vancouver |
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en |
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CEA-LETI |
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en |
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CEA-LETI |
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en |
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CEA-LETI |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. |
| 書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Nuclear Science
巻 53,
号 6(1),
p. 3242-3252,
発行日 2006-12
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| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
著者人数：13名 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0018-9499 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00667999 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2006.885111 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TNS.2006.885111 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1000560000 |
