| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2018-11-05 |
| タイトル |
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タイトル |
The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
CMOS |
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言語 |
en |
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Other |
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主題 |
fail bit map (FBM) |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
multiple-bit upset (MBU) |
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en |
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Other |
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主題 |
multiple-cell upset (MCU) |
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en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
parasitic bipolar effect (PBE) |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
single-event upset (SEU) |
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Other |
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主題 |
SRAM |
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en |
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Other |
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主題 |
two-photon absorption (TPA) |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
加藤, 貴志
Yamazaki, Takashi
Maruyama, Kazunori
Soeda, Takeshi
井辻, 宏章
小林, 大輔
廣瀬, 和之
松山, 英也
Kato, Takashi
Yamazaki, Takashi
Maruyama, Kazunori
Soeda, Takeshi
Itsuji, Hiroaki
Kobayashi, Daisuke
Hirose, Kazuyuki
Matsuyama, Hideya
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| 著者所属 |
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株式会社ソシオネクスト |
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富士通研究所 |
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富士通研究所 |
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富士通研究所 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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株式会社ソシオネクスト |
| 著者所属（英） |
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en |
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Reliability and Quality Assurance Department, Socionext Inc. |
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Applied Innovation Research Center, Fujitsu Laboratories Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Applied Innovation Research Center, Fujitsu Laboratories Ltd. |
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en |
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Applied Innovation Research Center, Fujitsu Laboratories Ltd. |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) : Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) : Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) : Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属（英） |
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en |
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Reliability and Quality Assurance Department, Socionext Inc. |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Nuclear Science
巻 65,
号 8,
p. 1900-1907,
発行日 2018-08
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| 内容記述（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Accepted: 2018-03-26 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0018-9499 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00667999 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2830781 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TNS.2018.2830781 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1180070000 |
