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  1. コンテンツタイプ
  2. 会議発表論文/会議発表用資料 (Conference Paper/Presentation)
  1. JAXA出版物(種類別)
  2. 特別資料 Special Publication(略称:SP)
  3. 2005年度
  4. JAXA-SP-05-001E 9th Spacecraft Charging Technology Conference

Evolution of the electron yield curves of insulators as a function of impinging electron fluence and energy

https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/6418
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/6418
83aa438d-0625-4678-90d5-a3205c7f76e2
名前 / ファイル ライセンス アクション
49206103.pdf 49206103.pdf (6.4 MB)
Item type 会議発表論文 / Conference Paper(1)
公開日 2015-03-26
タイトル
タイトル Evolution of the electron yield curves of insulators as a function of impinging electron fluence and energy
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
主題Scheme Other
主題 電子放出
キーワード
主題Scheme Other
主題 絶縁体
キーワード
主題Scheme Other
主題 発光スペクトル
キーワード
主題Scheme Other
主題 宇宙機帯電
キーワード
主題Scheme Other
主題 航空宇宙環境
キーワード
主題Scheme Other
主題 電荷蓄積
キーワード
主題Scheme Other
主題 誘電体
キーワード
主題Scheme Other
主題 表面電位
キーワード
主題Scheme Other
主題 電荷分布
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 electron emission
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 insulator
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 emission spectrum
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 spacecraft charging
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 aerospace environment
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 charge accumulation
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 dielectric
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 surface potential
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 charge distribution
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
著者 Dennison, J. R.

× Dennison, J. R.

en Dennison, J. R.

Search repository
Sim, Alec

× Sim, Alec

en Sim, Alec

Search repository
Thomson, Clint

× Thomson, Clint

en Thomson, Clint

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著者所属
Utah State University Physics Department
著者所属
Utah State University Physics Department
著者所属
ATK Thiokol
著者所属(英)
en
Utah State University Physics Department
著者所属(英)
en
Utah State University Physics Department
著者所属(英)
en
ATK Thiokol
出版者
出版者 宇宙航空研究開発機構
出版者(英)
出版者 Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)
書誌情報 宇宙航空研究開発機構特別資料
en : JAXA Special Publication: 9th Spacecraft Charging Technology Conference

巻 JAXA-SP-05-001E, p. 914-932, 発行日 2005-08-01
抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Electron emission and concomitant charge accumulation near the surface of insulators is central to understanding spacecraft charging. We present a study of changes in electron emission yields as a result of internal charge build up due to electron dose. Evolution of total, backscattered and secondary yield results over a broad range of incident energies are presented for two representative insulators, Kapton and Al2O3. Reliable yield curves for un-charged insulators are measured and quantifiable changes in yields are observed due to less than 100 fC/sq mm fluence. We find excellent agreement with a phenomenological argument based on insulator charging predicted by the yield curve; this includes a decrease in the rate of change of the yield as incident energies approach the crossover energies and as accumulated internal charge reduces the landing energy to asymptotically approach a steady state surface charge and unity yield. We also find that the exponential decay of yield curves with fluence exhibit an energy dependent decay constant, alpha(E). Finally, we discuss physics based models for this energy dependence. To understand fluence and energy dependence of these charging processes requires knowledge of how charge is deposited within the insulator, the mechanisms for charge trapping and transport within the insulator, and how the profile of trapped charge affects the transport and emission of charges from insulators.
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1349-113X
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11984031
資料番号
内容記述タイプ Other
内容記述 資料番号: AA0049206103
レポート番号
内容記述タイプ Other
内容記述 レポート番号: JAXA-SP-05-001E
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Ver.1 2023-06-21 07:56:06.682554
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