| アイテムタイプ |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
Characterization of Microdose Damage Caused by Single Heavy Ion Observed in Trench Type Power MOSFETs |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
久保山, 智司
丸, 明史
池田, 直美
平尾, 敏雄
田村, 高志
Kuboyama, Satoshi
Maru, Akifumi
Ikeda, Naomi
Hirao, Toshio
Tamura, Takashi
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| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構(JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構(JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構(JAXA) |
| 著者所属 |
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日本原子力研究開発機構 |
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宇宙航空研究開発機構(JAXA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Atomic Energy Agency(JAEA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
| 出版者（英） |
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出版者 |
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.(IEEE) |
| 書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Nuclear Science
巻 57,
号 6,
p. 3257-3261,
発行日 2010-12
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| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0018-9499 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2081686 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TNS.2010.2081686 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: ARDS91212000 |
