| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2019-04-03 |
| タイトル |
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タイトル |
Process Variation Aware Analysis of SRAM SEU Cross Sections Using Data Retention Voltage |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Data retention voltage |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
error analysis |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
integrated circuit reliability |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
ion radiation effects |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
neutron radiation effects |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
quality management |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
radiation hardening |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
static noise margin |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
static random access memory (SRAM) cells |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
SRAM chips. |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
小林, 大輔
Hayashi, Naoki
廣瀬, 和之
梯, 友哉
川崎, 治
牧野, 高紘
大島, 武
松浦, 大介
Mori, Yoshiharu
Kusano, Masaki
成田, 貴則
石井, 茂
益川, 一範
Kobayashi, Daisuke
Hayashi, Naoki
Hirose, Kazuyuki
Kakehashi, Yuya
Kawasaki, Osamu
Makino, Takahiro
Ohshima, Takeshi
Matsuura, Daisuke
Mori, Yoshiharu
Kusano, Masaki
Narita, Takanori
Ishii, Shigeru
Masukawa, Kazunori
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| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門 (JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門 (JAXA) |
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量子科学技術研究開発機構 |
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量子科学技術研究開発機構 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) : Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属（英） |
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en |
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Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属（英） |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) : Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属（英） |
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en |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
| 著者所属（英） |
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en |
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National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology |
| 著者所属（英） |
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en |
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National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| 書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Nuclear Science
巻 66,
号 1,
p. 155-162,
発行日 2019-01
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| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
著者人数: 13名 |
| 内容記述（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Accepted: 2018-11-13 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0018-9499 |
| ISSNONLINE |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
|
収録物識別子 |
1558-1578 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00667999 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2882221 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TNS.2018.2882221 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1180337000 |
