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  1. コンテンツタイプ
  2. 会議発表論文/会議発表用資料 (Conference Paper/Presentation)
  1. JAXA出版物(種類別)
  2. 特別資料 Special Publication(略称:SP)
  3. 2012年度
  4. JAXA-SP-12-008E Proceedings of 10th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications

Annealing Effects on Charge Collection Efficiency of an Electron Irradiated 4H-SiC Particle Detector

https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/4307
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/4307
6162fd47-6eef-4fae-9360-d4421193829a
名前 / ファイル ライセンス アクション
61889013.pdf 61889013.pdf (316.4 kB)
Item type 会議発表論文 / Conference Paper(1)
公開日 2015-03-26
タイトル
タイトル Annealing Effects on Charge Collection Efficiency of an Electron Irradiated 4H-SiC Particle Detector
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Silicon Carbide
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Particle Detector
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Charge Collection Efficiency
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Annealing Effect
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
著者 Iwamoto, N.

× Iwamoto, N.

Iwamoto, N.

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Johnson, B. C.

× Johnson, B. C.

Johnson, B. C.

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Oshima, T.

× Oshima, T.

Oshima, T.

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Hoshino, N.

× Hoshino, N.

Hoshino, N.

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Ito, M.

× Ito, M.

Ito, M.

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Tsuchida, H.

× Tsuchida, H.

Tsuchida, H.

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Iwamoto, N.

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en Iwamoto, N.

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Johnson, B. C.

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en Johnson, B. C.

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Oshima, T.

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Hoshino, N.

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Ito, M.

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Tsuchida, H.

× Tsuchida, H.

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著者所属
日本原子力研究開発機構(JAEA)
著者所属
日本原子力研究開発機構(JAEA)
著者所属
日本原子力研究開発機構(JAEA)
著者所属
電力中央研究所
著者所属
電力中央研究所
著者所属
電力中央研究所
著者所属(英)
en
Japan Atomic Energy Agency (JAEA)
著者所属(英)
en
Japan Atomic Energy Agency (JAEA)
著者所属(英)
en
Japan Atomic Energy Agency (JAEA)
著者所属(英)
en
Central Research Institute of Electric Power Industry (CRIEPI)
著者所属(英)
en
Central Research Institute of Electric Power Industry (CRIEPI)
著者所属(英)
en
Central Research Institute of Electric Power Industry (CRIEPI)
出版者
出版者 宇宙航空研究開発機構(JAXA)
出版者(英)
出版者 Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)
書誌情報 宇宙航空研究開発機構特別資料
en : JAXA Special Publication

巻 JAXA-SP-12-008E, p. 64-67, 発行日 2013-03-29
抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Thermal annealing effects on the charge collection efficiency (CCE) of an electron-irradiated4H silicon carbide Schottky barrier diode (SBD) particle detector have been studied.The CCE of the SBD detector is degraded by 1 MeV electrons with a fluence of 1×10(exp15) cm(exp-2). The degraded CCE recovers with low temperature annealing up to 300C. However, CCE starts to decrease again by annealing at 350C. Conventional electrical characterization such as current and capacitance vs voltage measurements, deep level transient spectroscopy used to understand the CCE variation on annealing is discussed.
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 形態: カラー図版あり
内容記述(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Physical characteristics: Original contains color illustrations
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1349-113X
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11984031
資料番号
内容記述タイプ Other
内容記述 資料番号: AA0061889013
レポート番号
内容記述タイプ Other
内容記述 レポート番号: JAXA-SP-12-008E
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Ver.1 2023-06-21 08:42:48.515869
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