WEKO3
アイテム
Facilities and Radiation Test Methods
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/4313
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/4313349a09ad-1253-43f0-ba2b-13003a17c781
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
61889019.pdf (561.8 kB)
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| Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2015-03-26 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Facilities and Radiation Test Methods | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | single-event effects (SEE) | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | total ionizing dose (TID) | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | LET | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | cyclotron | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | Co-60 | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | RadHard | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||
| 著者 |
Virtanen, Ari
× Virtanen, Ari
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| 著者所属 | ||||||||
| University of Jyvaskyla | ||||||||
| 著者所属（英） | ||||||||
| en | ||||||||
| University of Jyvaskyla | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 宇宙航空研究開発機構(JAXA) | |||||||
| 出版者（英） | ||||||||
| 出版者 | Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) | |||||||
| 書誌情報 |
宇宙航空研究開発機構特別資料 en : JAXA Special Publication 巻 JAXA-SP-12-008E, p. 90-95, 発行日 2013-03-29 |
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| 抄録（英） | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | This talk gives an overview of methods to test component failures caused by space radiation. First, a short introduction to the reasons such tests are necessary, and recent developments in test methodologies are given. Then, radiation environment and error effects, most specifically total dose and single-event-effects, are introduced. A more detailed description is given of the physics of different radiation interactions in semiconductors and the requirements they set for test methods. Facilities used worldwide to study radiation effects in electronics are listed, from which two commonly used test facilities are introduced in more detail. | |||||||
| 内容記述 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 形態: カラー図版あり | |||||||
| 内容記述（英） | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | Physical characteristics: Original contains color illustrations | |||||||
| ISSN | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||
| 収録物識別子 | 1349-113X | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11984031 | |||||||
| 資料番号 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 資料番号: AA0061889019 | |||||||
| レポート番号 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | レポート番号: JAXA-SP-12-008E | |||||||
