| Item type |
会議発表論文 / Conference Paper(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
SEE Tests of the 4Gb and 8Gb Nand Flash |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Nand Flash |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
SEE |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
High Current Event |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Function Failure |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 |
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資源タイプ |
conference paper |
| 著者 |
Wang, Pierre-Xiao
Berthet, P-E
Gouyet, L.
Rousset, A.
Vandevelde, B.
Wang, Pierre-Xiao
Berthet, P-E
Gouyet, L.
Rousset, A.
Vandevelde, B.
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| 著者所属 |
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3D Plus |
| 著者所属 |
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3D Plus |
| 著者所属 |
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TRAD |
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TRAD |
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TRAD |
| 著者所属（英） |
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en |
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3D Plus |
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en |
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3D Plus |
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en |
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TRAD |
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en |
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TRAD |
| 出版者 |
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出版者 |
宇宙航空研究開発機構(JAXA) |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
| 書誌情報 |
宇宙航空研究開発機構特別資料
en : JAXA Special Publication
巻 JAXA-SP-12-008E,
p. 138-141,
発行日 2013-03-29
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| 抄録（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
This paper summarizes SEE test results on Micron 4Gb and Samsung 8Gb Nand Flash device focusing on High Current Events and Function Failure resulting from radiation events. |
| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
形態: カラー図版あり |
| 内容記述（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Physical characteristics: Original contains color illustrations |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
1349-113X |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11984031 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: AA0061889030 |
| レポート番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
レポート番号: JAXA-SP-12-008E |
61889030.pdf (342.8 kB)
