| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2020-03-17 |
| タイトル |
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タイトル |
Data-Retention-Voltage-Based Analysis of Systematic Variations in SRAM SEU Hardness: A Possible Solution to Synergistic Effects of TID |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
小林, 大輔
廣瀬, 和之
坂本, 敬太
岡本, 祥吾
馬場, 俊祐
新藤, 浩之
川崎, 治
牧野, 高紘
大島, 武
Mori, Yoshiharu
松浦, 大介
Kusano, Masaki
成田, 貴則
石井, 茂
Kobayashi, Daisuke
Hirose, Kazuyuki
Sakamoto, Keita
Okamoto, Shogo
Baba, Shunsuke
Shindou, Hiroyuki
Kawasaki, Osamu
Makino, Takahiro
Ohshima, Takeshi
Mori, Yoshiharu
Matsuura, Daisuke
Kusano, Masaki
Narita, Takanori
Ishii, Shigeru
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| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門(JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門(JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門(JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門(JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門(JAXA) |
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量子科学技術研究開発機構 |
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量子科学技術研究開発機構 |
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三菱重工業 |
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三菱重工業 |
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三菱重工業 |
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三菱重工業 |
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三菱重工業 |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) : Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) : Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA) |
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National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology |
| 著者所属（英） |
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National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| 書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Nuclear Science
巻 67,
号 1,
p. 328-335,
発行日 2020-01
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| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
著者人数: 14名 |
| 内容記述（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Accepted: 2019-11-26 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0018-9499 |
| ISSNONLINE |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
1558-1578 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00667999 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2019.2956760 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TNS.2019.2956760 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1190197000 |
