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  1. シンポジウム・研究会
  2. 高温エレクトロニクス研究会
  3. 第21回
  1. コンテンツタイプ
  2. 会議発表論文/会議発表用資料 (Conference Paper/Presentation)

Assessment of Au-Ge Die Attachment for an Extended Junction Temperature Range in Power Applications

https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/17544
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Item type 会議発表論文 / Conference Paper(1)
公開日 2015-03-26
タイトル
言語 en
タイトル Assessment of Au-Ge Die Attachment for an Extended Junction Temperature Range in Power Applications
言語
言語 eng
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 High temperature
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Power device
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言語 en
主題Scheme Other
主題 SiC
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言語 en
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主題 Au-Ge
キーワード
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主題Scheme Other
主題 Die attachment
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Ceramic substrate
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
その他のタイトル
その他のタイトル -次世代電力変換器用途- SiC用高温Au-Geダイボンドとその信頼性評価
著者 谷本, 智

× 谷本, 智

WEKO 158926

谷本, 智

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松井, 康平

× 松井, 康平

WEKO 158927

松井, 康平

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村上, 善則

× 村上, 善則

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村上, 善則

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山口, 浩

× 山口, 浩

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山口, 浩

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奥村, 元

× 奥村, 元

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奥村, 元

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Tanimoto, Satoshi

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Matsui, Kohei

× Matsui, Kohei

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en Matsui, Kohei

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Murakami, Yoshinori

× Murakami, Yoshinori

WEKO 158933

en Murakami, Yoshinori

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Yamaguchi, Hiroshi

× Yamaguchi, Hiroshi

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en Yamaguchi, Hiroshi

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Okumura, Hajime

× Okumura, Hajime

WEKO 158935

en Okumura, Hajime

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著者所属
日産自動車株式会社 総合研究所 EVシステム : 研究所技術研究組合 次世代パワーエレクトロニクス研究開発機構 第3研究センター
著者所属
富士電機 : 研究所技術研究組合 次世代パワーエレクトロニクス研究開発機構 第3研究センター
著者所属
日産自動車株式会社 総合研究所 EVシステム : 研究所技術研究組合 次世代パワーエレクトロニクス研究開発機構 第3研究センター
著者所属
産業技術総合研究所 エネルギー半導体エレクトロニクス研究ラボ
著者所属
産業技術総合研究所 エネルギー半導体エレクトロニクス研究ラボ
著者所属(英)
en
Nissan Research Center (NRC), Nissan Motor Co., Ltd. : R&D Partnership for Future Power Electronics Technology (FUPET) c/o AIST
著者所属(英)
en
Advanced Technology Laboratry, Fuji Electric Holdings Co, Ltd. : R&D Partnership for Future Power Electronics Technology (FUPET) c/o AIST
著者所属(英)
en
Nissan Research Center (NRC), Nissan Motor Co., Ltd. : R&D Partnership for Future Power Electronics Technology (FUPET) c/o AIST
著者所属(英)
en
Energy Semiconductor Electronics Research Laboratory (ESERL), AIST
著者所属(英)
en
Energy Semiconductor Electronics Research Laboratory (ESERL), AIST
出版者
出版者 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)
出版者(英)
出版者 Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
書誌情報 第21回高温エレクトロニクス研究会
en : Proceedings of the 21st ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS

p. 5-13, 発行日 2011-04
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等)
内容記述タイプ Other
内容記述 第21回高温エレクトロニクス研究会(2011年3月2日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等)(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 The 21st ISAS Research Meeting on High Temperature Electronics (March 2, 2011. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
資料番号
内容記述タイプ Other
内容記述 資料番号: SA6000018002
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Ver.1 2023-06-21 04:36:42.461285
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