| アイテムタイプ |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
Impact of the Ge content and recess depth on the leakage current in strained Si1-xGex/Si heterojunctions |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
Rodriguez, Abraham Luque
Gonzalez, Mireia Bargallo
Eneman, Geert
Claeys, Cor
小林, 大輔
Simoen, Eddy
Tejada, Juan A. Jimenez
Rodriguez, Abraham Luque
Gonzalez, Mireia Bargallo
Eneman, Geert
Claeys, Cor
Kobayashi, Daisuke
Simoen, Eddy
Tejada, Juan A. Jimenez
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| 著者所属 |
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Interuniversity Microelectronics Center |
| 著者所属 |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven |
| 著者所属 |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven : Fonds Wetenschappelijk Onderzoek-Vlaanderen |
| 著者所属 |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven |
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Interuniversity Microelectronics Center |
| 著者所属 |
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Departamento de Electronica y Tecnologia de los Computadores, Facultad de Ciencias, Universidad de Granada |
| 著者所属（英） |
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en |
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Interuniversity Microelectronics Center |
| 著者所属（英） |
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en |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven |
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en |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven : Fonds Wetenschappelijk Onderzoek-Vlaanderen |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven |
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en |
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Interuniversity Microelectronics Center : Department of Electrical Engineering (ESAT)-Integrated System, Katholieke Universiteit Leuven |
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en |
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Interuniversity Microelectronics Center |
| 著者所属（英） |
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en |
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Departamento de Electronica y Tecnologia de los Computadores, Facultad de Ciencias, Universidad de Granada |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Electron Devices
巻 58,
号 8,
p. 2362-2370,
発行日 2011-08
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| 内容記述（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Accepted: 2011-04-19 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0018-9383 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00667820 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2011.2148723 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TED.2011.2148723 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1003244000 |
