| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2018-02-08 |
| タイトル |
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タイトル |
Heavy-Ion Soft Errors in Back-Biased Thin-BOX SOI SRAMs: Hundredfold Sensitivity Due to Line-Type Multicell Upsets |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Ion radiation effects |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
radiation hardening |
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en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
semiconductor device reliability |
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en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
silicon-on-insulator (SOI) technologies |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
single-event upsets |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
soft errors |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
| 著者 |
小林, 大輔
廣瀬, 和之
伊藤, 大智
梯, 友哉
川崎, 治
牧野, 高紘
大島, 武
松浦, 大介
成田, 貴則
加藤, 昌浩
石井, 茂
益川, 一範
Kobayashi, Daisuke
Hirose, Kazuyuki
Ito, Taichi
Kakehashi, Yuya
Kawasaki, Osamu
Makino, Takahiro
Ohshima, Takeshi
Matsuura, Daisuke
Narita, Takanori
Kato, Masahiro
Ishii, Shigeru
Masukawa, Kazunori
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| 著者所属 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) : 東京大学 |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門 (JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門 (JAXA) |
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宇宙航空研究開発機構研究開発部門 (JAXA) |
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量子科学技術研究開発機構 |
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量子科学技術研究開発機構 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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三菱重工業株式会社 |
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en |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) : Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
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Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) : Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
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Research and Development Directorate, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
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en |
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National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology |
| 著者所属（英） |
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en |
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National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Nuclear Science
巻 65,
号 1,
p. 523-532,
発行日 2018-01
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| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
著者人数: 12名 |
| 内容記述（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Accepted: 2017-11-14 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0018-9499 |
| ISSNONLINE |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
1558-1578 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00667999 |
| DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2017.2774805 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TNS.2017.2774805 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1170193000 |
