Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
公開日 |
2019-01-30 |
タイトル |
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タイトル |
Resistance-Based Modeling for Soft Errors in SOI SRAMs Caused by Radiation-Induced Potential Perturbation Under the BOX |
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言語 |
en |
言語 |
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言語 |
eng |
キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Soft error |
キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
radiation effect |
キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
silicon-on-insulator. |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
アクセス権 |
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アクセス権 |
metadata only access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_14cb |
著者 |
Chung, Chin-Han
小林, 大輔
廣瀬, 和之
Chung, Chin-Han
Kobayashi, Daisuke
Hirose, Kazuyuki
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著者所属 |
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東京大学 : 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) |
著者所属 |
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東京大学 : 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) |
著者所属 |
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東京大学 : 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS) |
著者所属(英) |
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en |
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Department of Electrical Engineering and Informative System, Graduate School of Engineering, University of Tokyo : Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) |
著者所属(英) |
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en |
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Department of Electrical Engineering and Informative System, Graduate School of Engineering, University of Tokyo : Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) |
著者所属(英) |
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en |
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Department of Electrical Engineering and Informative System, Graduate School of Engineering, University of Tokyo : Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency(JAXA)(ISAS) |
出版者(英) |
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出版者 |
Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. |
書誌情報 |
en : IEEE Transactions on Device and materials Reliability
巻 18,
号 4,
p. 574-582,
発行日 2018-12
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内容記述(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Accepted: 2018-09-24 |
ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
1530-4388 |
ISSNONLINE |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
1558-2574 |
書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11569084 |
DOI |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1109/TDMR.2018.2873220 |
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関連名称 |
info:doi/10.1109/TDMR.2018.2873220 |
資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA1180171000 |