| Item type |
紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
航空材料の疲れによる力学的劣化とその検出(第2報) : S/Nゲージの低サイクル疲労での特異な挙動についての予備実験 |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
departmental bulletin paper |
| その他のタイトル（英） |
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その他のタイトル |
On the Semi-Microscopic Damage Appearing in the Fatigue of S/N Gage. |
| 著者 |
河田, 幸三
本堂, 明
橋本, 彰三
KAWATA, Kozo
HONDO, Akira
HASHIMOTO, Shozo
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| 著者所属 |
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東京大学宇宙航空研究所 |
| 著者所属 |
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東京大学宇宙航空研究所 |
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東京大学宇宙航空研究所 |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Aeronautical Science |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Aeronautical Science |
| 著者所属（英） |
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en |
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Institute of Space and Aeronautical Science |
| 出版者 |
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出版者 |
東京大学宇宙航空研究所 |
| 書誌情報 |
東京大学宇宙航空研究所報告
巻 6,
号 3_B,
p. 729-737,
発行日 1970-09
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
S/Nゲージの低サイクル疲労において,定ひずみ繰返し負荷回数の増加に伴い,半徴視的損傷が金属顕徴鏡視野のもとで現われることが明らかにされた.これは金属材料の塑性変形による抵抗変化の原因として従来考えられていた点欠陥,転位と共に,あわせ考慮されるべきであろう. |
| 抄録（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
It is found that semi-microscopic damage appears in the low cycle fatigue of S/N gage under a constant strain condition. This semi-microscopic damage should be considered as the source of electric resistance variation of metallic materials under plastic deformation, with point-defect and dislocation already mentioned. |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0563-8100 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AN00161914 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: SA0125364000 |
SA0125364.pdf (3.8 MB)
