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  1. コンテンツタイプ
  2. 会議発表論文/会議発表用資料 (Conference Paper/Presentation)
  1. JAXA出版物(種類別)
  2. 特別資料 Special Publication(略称:SP)
  3. 2012年度
  4. JAXA-SP-12-008E Proceedings of 10th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications

Evaluation of SiC Power Diodes against Terrestrial Neutron-Induced Failure at Ground Level

https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/4329
https://jaxa.repo.nii.ac.jp/records/4329
0016f9ac-4505-4abb-89f7-3675c3882c0c
名前 / ファイル ライセンス アクション
61889035.pdf 61889035.pdf (220.0 kB)
Item type 会議発表論文 / Conference Paper(1)
公開日 2015-03-26
タイトル
タイトル Evaluation of SiC Power Diodes against Terrestrial Neutron-Induced Failure at Ground Level
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Silicon Carbide (SiC)
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Terrestrial Neutron
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Single-Event Burnout (SEB)
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 RCNP
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 LANSCE/WNR
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
著者 Asai, Hiroaki

× Asai, Hiroaki

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Morimura, Tadaaki

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著者所属
HIREC株式会社
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HIREC株式会社
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HIREC株式会社
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HIREC株式会社
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HIREC株式会社
著者所属(英)
en
High-Reliability Engineering & Components Corporation (HIREC)
著者所属(英)
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High-Reliability Engineering & Components Corporation (HIREC)
著者所属(英)
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High-Reliability Engineering & Components Corporation (HIREC)
著者所属(英)
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High-Reliability Engineering & Components Corporation (HIREC)
著者所属(英)
en
High-Reliability Engineering & Components Corporation (HIREC)
著者所属(英)
en
High-Reliability Engineering & Components Corporation (HIREC)
出版者
出版者 宇宙航空研究開発機構(JAXA)
出版者(英)
出版者 Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)
書誌情報 宇宙航空研究開発機構特別資料
en : JAXA Special Publication

巻 JAXA-SP-12-008E, p. 162-165, 発行日 2013-03-29
抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Terrestrial neutrons cause single-event effects (SEEs) in semiconductor devices, which crucially affect the reliability of electronic systems used in the terrestrial environment. This paper presents evaluation results of high energy neutron-induced single-event burnout (SEB) in silicon carbide (SiC) power diodes and differences between SiC and silicon (Si) devices from the SEB standpoint.
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 形態: カラー図版あり
内容記述(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Physical characteristics: Original contains color illustrations
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1349-113X
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11984031
資料番号
内容記述タイプ Other
内容記述 資料番号: AA0061889035
レポート番号
内容記述タイプ Other
内容記述 レポート番号: JAXA-SP-12-008E
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Ver.1 2023-06-21 08:42:05.192880
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