| Item type |
会議発表論文 / Conference Paper(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
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タイトル |
ESD test for triple-junction solar cells with monolithic diode |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
航空宇宙環境 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
太陽電池アレイ |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
静電気放電 |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
3接合太陽電池 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
モノリシックダイオード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
宇宙機給電 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
宇宙機帯電 |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
アーク放電 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
aerospace environment |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
solar array |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
electrostatic discharge |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
triple-junction solar cell |
| キーワード |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
monolithic diode |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
spacecraft power supply |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
spacecraft charging |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
arc discharge |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 |
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資源タイプ |
conference paper |
| 著者 |
野崎, 幸重
増井, 博一
豊田, 和弘
Cho, Mengu
Nozaki, Yukishige
Masui, Hirokazu
Toyoda, Kazuhiro
Cho, Mengu
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| 著者所属 |
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NEC東芝スペースシステム |
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九州工業大学 |
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九州工業大学 |
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九州工業大学 |
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en |
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NEC TOSHIBA Space Systems Ltd. |
| 著者所属（英） |
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en |
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Kyushu Institute of Technology |
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en |
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Kyushu Institute of Technology |
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en |
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Kyushu Institute of Technology |
| 出版者 |
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出版者 |
宇宙航空研究開発機構 |
| 出版者（英） |
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出版者 |
Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
| 書誌情報 |
宇宙航空研究開発機構特別資料: 第4回宇宙環境シンポジウム講演論文集
en : JAXA Special Publication: Proceedings of the 4th Spacecraft Environment Symposium
巻 JAXA-SP-07-030,
p. 95-98,
発行日 2008-03-31
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| 抄録（英） |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Recently many spacecraft use Triple-Junction (TJ) solar cells as their primary electrical power source because of their excellent efficiency. However it is also known that triple-junction solar cells are easy to be broken by a low reverse bias voltage. Therefore a discrete by-pass diode should be connected to every solar cell in parallel for the shadow protection. Under these circumstances, TJ solar cells with integrate Monolithic Diode (MD) have been introduced to market recently. In the CICing (Coverglass Interconnect Cell) of TJ solar cell with MD, cell-to-cell interconnector is connected on MD pad. The interconnector region forms triple-junction in orbit, making primary arc inception easy. Therefore, it is necessary to study the behavior of arcs on MD solar cell array. The result of the ESD (ElectroStatic Discharge) test for MD solar array revealed that the degradation of MD solar cell is caused by not only large current but also total energy of the discharge. The waveform seems to be affected by the impedance of the solar array circuit. This paper presents the recent results of ESD test for MD solar array and proposes further investigation based on the test results. |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
1349-113X |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11984031 |
| 資料番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
資料番号: AA0063997013 |
| レポート番号 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
レポート番号: JAXA-SP-07-030 |
63997013.pdf (585.4 kB)
