| Item type |
テクニカルレポート / Technical Report(1) |
| 公開日 |
2015-03-26 |
| タイトル |
|
|
タイトル |
民生部品を生かすHBD技術 |
| 言語 |
|
|
言語 |
jpn |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
Hardness-By-Design手法 |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
照射試験 |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
CMOS/SOIプロセス |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
航空宇宙環境 |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
宇宙線 |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
放射線耐性 |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
シングルイベントアップセット |
| キーワード |
|
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
LSI |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
Hardness-By-Design approach |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
irradiation test |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
CMOS/SOI process |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
aerospace environment |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
cosmic ray |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
radiation tolerance |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
single event upset |
| キーワード |
|
|
言語 |
en |
|
主題Scheme |
Other |
|
主題 |
LSI |
| 資源タイプ |
|
|
資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
|
資源タイプ |
technical report |
| その他のタイトル（英） |
|
|
その他のタイトル |
HBD methodology that promotes space application of COTS |
| 著者 |
新藤, 浩之
浅井, 弘彰
池田, 直美
山田, 理子
久保山, 智司
松田, 純夫
Shindo, Hiroyuki
Asai, Hiroaki
Ikeda, Naomi
Yamada, Noriko
Kuboyama, Satoshi
Matsuda, Sumio
|
| 著者所属 |
|
|
|
宇宙航空研究開発機構 総合技術研究本部 |
| 著者所属 |
|
|
|
宇宙航空研究開発機構 総合技術研究本部 |
| 著者所属 |
|
|
|
宇宙航空研究開発機構 総合技術研究本部 |
| 著者所属 |
|
|
|
宇宙航空研究開発機構 総合技術研究本部 |
| 著者所属 |
|
|
|
宇宙航空研究開発機構 総合技術研究本部 |
| 著者所属 |
|
|
|
宇宙航空研究開発機構 総合技術研究本部 |
| 著者所属（英） |
|
|
|
en |
|
|
Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space Technology and Aeronautics |
| 著者所属（英） |
|
|
|
en |
|
|
Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space Technology and Aeronautics |
| 著者所属（英） |
|
|
|
en |
|
|
Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space Technology and Aeronautics |
| 著者所属（英） |
|
|
|
en |
|
|
Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space Technology and Aeronautics |
| 著者所属（英） |
|
|
|
en |
|
|
Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space Technology and Aeronautics |
| 著者所属（英） |
|
|
|
en |
|
|
Japan Aerospace Exploration Agency Institute of Space Technology and Aeronautics |
| 出版者 |
|
|
出版者 |
宇宙航空研究開発機構 |
| 出版者（英） |
|
|
出版者 |
Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) |
| 書誌情報 |
宇宙航空研究開発機構特別資料: 平成16年度総合技術研究本部宇宙領域宇宙科学研究本部合同研究成果報告書:人工衛星系基盤技術
en : JAXA Special Publication: FY2004 Report of Joint Research Achievements of the Space Division of Institute of Aerospace Technology and Institute of Space and Astronautical Science: Basic Technologies of Satellite Systems
巻 JAXA-SP-05-008,
p. 211-216,
発行日 2006-01-20
|
| 抄録（英） |
|
|
内容記述タイプ |
Other |
|
内容記述 |
Hardness-By-Design (HBD) approach for 0.15 micrometer fully depleted CMOS/SOI process was studied. We designed logic cells hardened for SEU/SET and performed the irradiation tests in order to evaluate the effectiveness of this methodology. Excellent hardness was achieved, and it is thought that state-of-the-art parts can be applied to space by using this technique. |
| ISSN |
|
|
収録物識別子タイプ |
ISSN |
|
収録物識別子 |
1349-113X |
| 書誌レコードID |
|
|
収録物識別子タイプ |
NCID |
|
収録物識別子 |
AA11984031 |
| 資料番号 |
|
|
内容記述タイプ |
Other |
|
内容記述 |
資料番号: AA0049054044 |
| レポート番号 |
|
|
内容記述タイプ |
Other |
|
内容記述 |
レポート番号: JAXA-SP-05-008 |
49054044.pdf (939.5 kB)
